【用途】

LAMBDA 系列高性能分光光度計。不論是以各種角度測量薄膜的絕對反射率，還是測量高吸光度液體的絕對反射率，它們都能展示出無與倫比的測量能力。它重新定義了測量能力的極限，可提供前所未有的靈敏度、分辨率和近紅外區(qū)的掃描速度。

【技術規(guī)格】　　

波長范圍：190~1100nm；

雜散光：0.01%T，在220、340、370nm；

器線性范圍：3A；

波長精度：±0.1nm；

波長重復性：<0.05nm, D2銳線；

光譜帶寬：0.5nm；

光度精度：±0.001A@1A；

光度重復性：<0.001A@1A；

基線漂移：<0.00015A/h@1A, 500nm；

基線平直：<0.001A；

噪聲水平：<0.00005A（0A，500nm，均方根）；

光源：預校準的氘燈、碘鎢燈，自動轉換；用戶可自行更換光源，無需工程師上門安裝；

檢測器：固態(tài)檢測器，可以實現(xiàn)實時雙檢測；

分束器：50/50設計，保證了讀取數(shù)據的穩(wěn)定；

自動進樣器：200個樣品位；

軟件：工作站：Windows XP下 紫外/可見/近紅外 分光光度計儀器控制及數(shù)據處理軟件UV WinLab V6，包括數(shù)

據采集（含光譜掃描、時間驅動、多波長測定及定量分析）、記錄、處理及儲存光譜數(shù)據，并進行儀器校驗，儀

器的控制及附件的控制，以及強大的試驗報告生成器等，還包含多達數(shù)十種的分析方法。

高級軟件包ASSP：包括6種獨立的應用導向式的模塊：色度測量模塊，濾光片測量模塊，建筑玻璃模塊，防護玻

璃模塊，光譜數(shù)據庫模塊，數(shù)學處理模塊。

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